C. Miccoli, J. Barber, C. Monzio Compagnoni, G. M. Paolucci, J. Kessenich, A. L. Lacaita, A. S. Spinelli, R. Koval, A. Goda, "Resolving discrete emission events: a new perspective for detrapping investigation in NAND Flash memories". Best Student Paper Award all'International Reliability Physics Symposium (IRPS) nell'edizione 2013 svoltasi dal 14 al 18 Aprile a Monterey - CA - USA.

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