Davide Baroffio, dottorando in Ingegneria dell’Informazione al Dipartimento di Elettronica, Informazione e Bioingegneria del Politecnico di Milano, è stato insignito del premio TODAES Rookie Author of the Year (RAY) durante la prestigiosa conferenza DAC 2025, tenutasi il 25 giugno a San Francisco.

L’articolo premiato, intitolato “Enhanced Compiler Technology for Software-Based Hardware Fault Detection” e scritto insieme a Federico Reghenzani e al Prof. William Fornaciari, è stato pubblicato sulla rivista ACM Transactions on Design Automation of Embedded Systems.

La ricerca si concentra sul miglioramento dell'affidabilità dei sistemi elettronici utilizzando un approccio esclusivamente basato sul software. In sostanza, il team ha sviluppato tool che consentono alle piattaforme di calcolo di continuare a funzionare correttamente anche in presenza di problemi hardware—senza la necessità di utilizzare componenti fisici sviluppati ad-hoc. La soluzione si basa su un tool esistente chiamato ASPIS, al quale sono state aggiunte nuove funzionalità di sicurezza, riducendo al contempo l’impatto sulle prestazioni del sistema.

Lo studio ha inoltre testato lo strumento su FreeRTOS, un sistema operativo real-time ampiamente utilizzato, e ha condotto esperimenti di iniezione di guasti su una popolare scheda a microcontrollore STM32. I risultati hanno mostrato che il sistema è in grado di gestire i guasti in modo efficace, raggiungendo un buon equilibrio tra sicurezza ed efficienza.

Questo lavoro fa parte delle ricerche in corso all’HEAP Lab nell’ambito del Centro Nazionale di Ricerca in HPC, Big Data e Quantum Computing, finanziato dal PNRR (Piano Nazionale di Ripresa e Resilienza).