Set-up per la misura di dispositivi on-wafer

Descrizione

  • Probe stations
  • Strumenti per il testing di dispositivi a semiconduttore
  • Semiconductor parameter analyzer
  • pA meter/DC voltage source
  • Precision LCR meter
  • Data acquisition/switch unit
  • Impulsatori e amplificatori (fino a 40 MHz)
  • Oscilloscopi