Diagnostic in smart electronic embedded system
Marco Riva e Marco Testa
ABB Dalmine, divisione EPMV
DEIB - Sala Conferenze
20 Aprile 2017
13.15 - 16.15
Contatti:
Loredana Cristaldi
Linea di Ricerca:
Misure e diagnostica
ABB Dalmine, divisione EPMV
DEIB - Sala Conferenze
20 Aprile 2017
13.15 - 16.15
Contatti:
Loredana Cristaldi
Linea di Ricerca:
Misure e diagnostica
Sommario
Obiettivo del seminario è quello di analizzare i requisiti di affidabilità e robustezza di apparecchiature innovative per sistemi in media tensione.
Verrà inoltre presentato lo stato dell’arte relativo alle tecniche di diagnostica attualmente in uso e sulle funzionalità che gli smart electronic embedded system consentiranno in futuro.
Sarà possibile, a valle del seminario, discutere con i relatori, di possibili stage (anche finalizzati alla tesi) presso gli stabilimenti ABB.
Il seminario rientra nelle attività previste dalla convenzione tra il Politecnico di Milano e ABB e verrà svolto durante le ore del corso di Tecniche di misura e Diagnostica.
Verrà inoltre presentato lo stato dell’arte relativo alle tecniche di diagnostica attualmente in uso e sulle funzionalità che gli smart electronic embedded system consentiranno in futuro.
Sarà possibile, a valle del seminario, discutere con i relatori, di possibili stage (anche finalizzati alla tesi) presso gli stabilimenti ABB.
Il seminario rientra nelle attività previste dalla convenzione tra il Politecnico di Milano e ABB e verrà svolto durante le ore del corso di Tecniche di misura e Diagnostica.